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J-GLOBAL ID：201302278023967653   整理番号：13A0934669

BRMによる白色OLEDの一定ステップストレス加速寿命試験

Constant-Step Stress Accelerated Life Tests of White OLED by BRM

著者 (5件)： Zhang Jianping (School of Thermal Power and Environmental Engineering,Shanghai Univ. of Electric Power, Shanghai) ,  Wu Liang (School of Thermal Power and Environmental Engineering,Shanghai Univ. of Electric Power, Shanghai) ,  Cheng Guoliang (Shanghai Tianyi Electric CO.,LTD, Shanghai) ,  Zhou Tingjun (School of Thermal Power and Environmental Engineering,Shanghai Univ. of Electric Power, Shanghai) ,  Zhu Wenqing (Key Lab. of Advanced Display and System Applications of EMC,Shanghai Univ., Shanghai)
資料名： Yejing yu Xianshi  (Yejing yu Xianshi)
巻： 27  号： 2  ページ： 187-192  発行年： 2012年 
JST資料番号： W1519A  ISSN： 1007-2780  CODEN： YYXIFY  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 白色OLEDの寿命情報を取得するために,電流ストレスが増加されている状態で,2つの定数とワンステップストレス加速寿命試験(ALT)を行なった。Weibull分布関数を適用して,寿命分布を記述し,双線型回帰法(BRM)を採用して,Weibullパラメータを推定し,加速寿命方程式を決定した。Kolmogorov-Smirnovテストを実行して,白色OLED寿命がWeibull分布を満たしたかどうかを検証し,開発したソフトウェアを使って,平均寿命及び中央の寿命を計算した。数値結果は,一定ステップのテストプランが実現可能で,多面的であり,OLEDの寿命がWeibull分布に従い,寿命対ストレスの関係がArrheniusの式を完全に満足することを示す。正確な加速パラメータは,より短い時間でOLEDの寿命を予測するのに特に有用であることを示す。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *発光ダイオード ,  加速試験 ,  寿命試験 ,  エレクトロルミネセンス ,  有機半導体 ,  ソフトウェア ,  ストレス ,  寿命 ,  寿命分布
準シソーラス用語： *白色OLED ,  加速寿命試験 ,  電流ストレス ,  平均寿命

分類 (1件)： 表示機器  (NC06030Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： BRM ,  白色OLED ,  ストレス ,  加速寿命試験