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J-GLOBAL ID：201302278050999990   整理番号：13A0083216

particle-in-cell/モンテカルロ衝突(PIC/MCC)法を用いたトリボプラズマのシミュレーション分析

Simulation analysis of triboplasma generation using the particle-in-cell/Monte Carlo collision (PIC/MCC) method

著者 (2件)： NAKAYAMA Keiji (Chiba Inst. of Technol., Chiba, JPN) ,  TANAKA Masaaki (PEGASUS Software Inc., Tokyo, JPN)
資料名： Journal of Physics. D. Applied Physics  (Journal of Physics. D. Applied Physics)
巻： 45  号： 49  ページ： 495203,1-8  発行年： 2012年12月12日 
JST資料番号： B0092B  ISSN： 0022-3727  CODEN： JPAPBE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： トリボプラズマにおいて生成された電子,及びN₂⁺及びO₂⁺イオンの側面分布の詳細な情報を,particle-in-cell/モンテカルロ衝突(PIC/MCC)シミュレーション法を用いて理論的に得た。シミュレーションは,プラズマにおいて生成された電子,及びN₂⁺及びO₂⁺イオンの明確な側面分布を与えた。荷電粒子の理論的に得た側面分布は,プラズマから放出される光子の実験的に得た平面分布と良く一致した。この一致は,以前に提案された空気放電プラモデルを裏付けた。

シソーラス用語： *プラズマ ,  電子 ,  窒素 ,  酸素 ,  イオン ,  分布 ,  荷電粒子 ,  シミュレータプログラム ,  シミュレーション ,  光子 ,  放電
準シソーラス用語： *トリボプラズマ ,  *粒子分布 ,  *Particle-in-Cell法 ,  *モンテカルロシミュレーション

分類 (2件)： プラズマ一般  (BJ02010B) ,  プラズマ診断  (BJ02090L)

タイトルに関連する用語 (7件)： モンテカルロ ,  衝突 ,  PIC ,  MCC ,  法 ,  シミュレーション ,  分析