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J-GLOBAL ID：201302278868559937   整理番号：13A1928775

準大気圧X線光電子分光法による触媒表面のその場観測

In-situ observation of catalytic surfaces with near ambient pressure x-ray photoelectron spectroscopy

著者 (3件)： 近藤寛 (慶応大 理工) ,  近藤寛 (慶応大 大学院理工学研究科) ,  豊島遼 (慶応大 大学院理工学研究科)
資料名： 放射光  (日本放射光学会誌)
巻： 26  号： 6  ページ： 317-326  発行年： 2013年11月30日 
JST資料番号： L0956A  ISSN： 0914-9287  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 放射光光源を用いた準大気圧X線光電子分光(Near-Ambient-Pressure X-ray Photoelectron Spectroscopy:NAP-XPS)法によって,従来の光電子分光では困難であった大気圧に近いガス存在下での物質表面の化学状態をリアルタイムで観測できるようになった。得られたXPSスペクトルを密度汎関数法に基づくCore Level Shiftの計算と比較することで,準大気圧下での吸着構造や触媒反応活性な表面状態を詳細に検討することが可能である。ここでは,この手法の開発と現状を紹介し,幾つかの応用例を挙げながら,この手法によって見えてくる触媒表面の原子・分子過程とこの手法の今後の発展について述べる。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線光電子スペクトル ,  その場観察 ,  X線光電子分光法 ,  密度汎関数法 ,  *触媒活性 ,  表面準位 ,  表面 ,  *触媒反応 ,  吸着 ,  解離 ,  構造相転移 ,  *パラジウム触媒 ,  シンクロトロン放射
準シソーラス用語： 準大気圧X線光電子分光法 ,  表面状態

分類 (2件)： 貴金属触媒  (CB06122I) ,  電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (29件)：

• H., Siegbahna. J Electron Spectrosc Rel Phen. 1973, 2, 319-325
• H., Fellner-Feldegg. J Electron Spectrosc Rel Phen. 1975, 7, 421-428
• H., Siegbahn. J Electron Spec-trosc Rel Phen. 1981, 24, 205-213
• D., Ogletree. Rev. Sci. Instrum. 2002, 73, 3872-3877
• D.F., Ogletree. Nucl. Instr. Methods Phys. Res. A. 2009, 600, 151-160

タイトルに関連する用語 (4件)： 大気圧 ,  X線光電子分光法 ,  触媒 ,  観測