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J-GLOBAL ID：201302280767951814   整理番号：13A0427193

Evaluation of soft error rates using nuclear probes in bulk and SOI SRAMs with a technology node of 90 nm

著者 (8件)： TAKAI M ,  IWAMATSU T ,  OHSHIMA T ,  HIRAO T ,  ONODA S ,  WAKAYA F ,  MASUDA N ,  ABO S
資料名： NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS
巻： 268  号： 11-12  ページ： 2074-2077  発行年： 2010年 
JST資料番号： O4401A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： SOI