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J-GLOBAL ID：201302284010161188   整理番号：13A0026401

電磁波照射を用いたフォールト攻撃によるICカードからのAES鍵の抽出

How to Extract AES Key from Smart Card by Fault Injection Attack Using Electromagnetic Irradiation

著者 (7件)： 土屋遊 ,  岸川剛 ,  齋藤翔平 ,  遠山毅 ,  佐々木明彦 (森田テック) ,  佐藤証 (東大 大規模集積システム設計教育研究セ) ,  松本勉
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 306(LOIS2012 32-46)  ページ： 1-8  発行年： 2012年11月14日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 暗号モジュールに部分的にフォールトを起こしモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法と位置づけられ,フォールト攻撃への耐性評価法の確立が求められている。我々は電磁波照射によるフォールト攻撃評価環境を構築した。この評価環境において,ブロック暗号AES(128ビット鍵)を実装した(フォールト攻撃に対する特段の対策なしの)接触型ICカードを動作させ,AESの10ラウンド目のAddRoundKey処理に合わせて電磁波を照射し,AddRoundKey処理の1クロック毎にフォールトを起こすことに成功した。さらに,フォールトが起きたときの出力暗号文から直接,またフォールトなしの場合の暗号文との排他的論理和を計算することにより,ICカードに内蔵されたAESの鍵の128ビット全てを導出することに成功した。本報告はその詳細を述べるとともに,電磁波照射によるフォールト攻撃への暗号モジュールの耐性評価方法について論じる。(著者抄録)

シソーラス用語： *コンピュータセキュリティ ,  *公開鍵暗号 ,  国家規格 ,  システム評価 ,  電磁波照射 ,  ICカード ,  実装設計 ,  暗号鍵 ,  故障検出 ,  文章 ,  高度暗号化規格
準シソーラス用語： AES【規格】 ,  *フォールト攻撃 ,  暗号文

分類 (2件)： データ保護  (JD01020V) ,  符号理論  (ND02030R)

タイトルに関連する用語 (5件)： 電磁波照射 ,  攻撃 ,  ICカード ,  AES ,  鍵