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J-GLOBAL ID：201302285600909214   整理番号：13A0137887

SRAMのランダムアドレスエラーを用いたPUFの安定化向上手法

A Stable Chip-ID Generating Physical Uncloneable Function Using Random Address Errors in SRAM

著者 (7件)： 藤原英弘 (ルネサスエレクトロニクス) ,  藪内誠 (ルネサスエレクトロニクス) ,  塚本康正 (ルネサスエレクトロニクス) ,  中野裕文 (ルネサスエレクトロニクス) ,  大和田徹 (ルネサスエレクトロニクス) ,  河合浩行 (ルネサスエレクトロニクス) ,  新居浩二 (ルネサスエレクトロニクス)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 365(ICD2012 86-122)  ページ： 91-95  発行年： 2012年12月10日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿では,SRAMのランダムマージン不良を用いたチップ固有ID生成回路の安定化手法について述べる。提案する出荷前のスクリーニングテストを適用することにより,チップ固有ID生成時の動作環境の変化に対する高い耐性を実現することが可能となる。40nmプロセスを用いたTEGチップの実測結果により,128bitのチップ固有IDを生成する場合において,チップ固有IDの安定性およびハミング距離が,それぞれ100%,63.7になることを確認した。200MHz動作時において,チップ固有ID生成時間は10us以下となった。(著者抄録)

シソーラス用語： *半導体チップ ,  SRAM ,  *認証 ,  安定化 ,  Hamming距離 ,  *情報セキュリティ ,  スクリーニング ,  コンピュータセキュリティ
準シソーラス用語： ID ,  *SRAMチップ

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  データ保護  (JD01020V)

タイトルに関連する用語 (3件)： SRAM ,  安定化 ,  手法