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J-GLOBAL ID：201302285886675860   整理番号：13A0979798

ゾルゲル法により作製したAg添加ZrO₂薄膜の微細構造と光学的性質

Microstructure and optical properties of Ag-doped ZrO₂ thin films prepared by sol gel method

著者 (1件)： JOY K. (Mar Ivanios Coll., Thin Film Lab, Post Graduate and Res. Dep. of Physics, 695015, Thiruvananthapuram, IND)
資料名： Journal of Sol-Gel Science and Technology  (Journal of Sol-Gel Science and Technology)
巻： 66  号： 2  ページ： 293-300  発行年： 2013年05月 
JST資料番号： W0812A  ISSN： 0928-0707  CODEN： JSGTEC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： Ag添加ZrO₂薄膜をゾル-ゲルディップコーティング法によりて石英基板上に堆積させた。低い温度(500°C)でZrO₂の正方晶系から単斜晶系への相変態に及ぼすAg添加の影響をX線回折により調べた。Ag添加が相変態を促進することが認められた。相変態は正方晶粒径の増加及びAg添加による空孔の濃度の増加に起因すると推察した。膜表面のAg原子の蓄積及び膜の表面形態の変化は,Ag濃度を変化の関数としてAFMで観察した。X線光電子分光法によりAg添加薄膜のAg3dおよびO1sスペクトルを示した。Agの化学的状態はZrO₂中のAg⁺の一価状態として同定した。Ag添加ZrO₂薄膜はバンドギャップ値の設計を立証した。また,室温での発光スペクトルの強度は,Ag添加により抑制されることを示した。Copyright 2013 Springer Science+Business Media New York Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： ゾル-ゲル法 ,  ドーピング ,  石英 ,  *酸化ジルコニウム ,  正方晶系 ,  単斜晶系 ,  相変態 ,  結晶粒度 ,  発光スペクトル ,  X線光電子分光法 ,  顕微鏡観察 ,  *薄膜 ,  微細構造 ,  光学的性質 ,  光学ギャップ ,  セラミック被覆 ,  セラミック膜 ,  *銀 ,  光ルミネセンス
準シソーラス用語： ディップコーティング法 ,  原子間力顕微鏡法

分類 (2件)： 酸化物薄膜  (BK14050P) ,  無機化合物のルミネセンス  (BM08093J)

タイトルに関連する用語 (7件)： ゾルゲル法 ,  作製 ,  Ag ,  ZrO2 ,  薄膜 ,  微細構造 ,  光学的性質