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J-GLOBAL ID：201302288090326030   整理番号：13A1253338

広視野リモートカメラの時間遅れ積分電荷結合素子の試験システム

Test system for time-delayed integration charge coupled device of remote camera with wide field of view

著者 (6件)： Li Jin (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun) ,  Jin Longxu (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun) ,  Han Shuangli (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun) ,  Li Guoning (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun) ,  Lv Zengming (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun) ,  Tao Hongjiang (Changchun Inst. of Optics, Fine Mechanics and Physics, Chinese Acad. of Sciences, Changchun)
資料名： Hongwai yu Jiguang Gongcheng  (Hongwai yu Jiguang Gongcheng)
巻： 41  号： 9  ページ： 2415-2423  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2521A  ISSN： 1007-2276  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 広視野マルチチップカメラの性能を選択するためのCCD試験システムを提案した。最初に,CCD試験システムの構成要素を紹介し,CCDの作動原理をCCD構造の特性に基づいて解析した。次に,CCDイメージング評価回路の主要技術を記述した。電荷ポンプに基づくCCDタイミングドリブン戦略とクローズドループ自動可変電圧に基づく出力戦略を提案した。画像処理に基づくCCD試験方法をCCD画素応答不均一性,ブラインド画素,ホットとコールド画素のために提案した。最初に,XX-Xリモートの17CCDをこのCCD試験システムにより試験した。実験結果により,17CCDの指標が物体の設計要求をインラインに満たすことを示した。全CCDの応答不均一性は5%以下,その応答性は985V/(J.cm(-2))以上,およびダイナミックレンジは2320:1以上であった。このCCD試験システムはCCDの性能を総合的に評価できた。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *CCDカメラ ,  *リモートセンシング ,  *電荷結合素子 ,  *画像処理 ,  試験装置 ,  画素 ,  インライン処理 ,  応答特性 ,  ダイナミックレンジ ,  性能評価
準シソーラス用語： *イメージングシステム ,  マルチチップモジュール ,  広視野 ,  作動原理 ,  時間遅れ ,  電荷ポンプ

分類 (3件)： 撮像・録画装置  (ND12032E) ,  電荷移送デバイス  (NC03130E) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 広視野 ,  時間遅れ ,  積分 ,  電荷結合素子 ,  試験システム