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J-GLOBAL ID：201302288369558470   整理番号：13A0943548

MEVVAイオン源によって生じるニッケルプラズマの発光スペクトル診断の間の最小二乗法に基づく一峰性あてはめ

SINGLE PEAK FITTING BASED ON LEAST SQUARES DURING EMISSION SPECTRAL DIAGNOSIS OF NICKEL PLASMA PRODUCED BY MEVVA ION SOURCE

著者 (6件)： Deng Chunfeng (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...) ,  Liao Bin (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...) ,  Zhang Xu (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...) ,  Li Jing (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...) ,  Wang Kai (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...) ,  Wu Xianying (Key Lab. of Beam Technol. and Material Modification of Education,Coll. of Nuclear Sci. and Technol.,Beijing Normal ...)
資料名： Beijing Shifan Daxue Xuebao. Zirankexueban  (Beijing Shifan Daxue Xuebao. Zirankexueban)
巻： 48  号： 3  ページ： 257-262  発行年： 2012年 
JST資料番号： C2594A  ISSN： 0476-0301  CODEN： BSDKDH  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： MEVVAニッケルプラズマの発光スペクトル診断は,「Plasus Specline」スペクトルソフトウェアを使用したスペクトロメータ採取データの境界設定を必要とした。いくつかのラインが高強度を示したが,しかし,制限されたスペクトロメータ分解能により,このキャリブレーション結果は実際の状態と一致しないか,あるいはむしろ,明らかなピーク波長が存在しなくて,したがって,キャリブレーションを正確に実施することができなかった。本問題を解明するために,原子発光分析ドプラ効果とLorentz広域化との組合せで,広幅化に関してひとつの機構だけの考察の見込みで,関数近似を行うためにそれぞれGaussianとローレンツ線輪郭関数を使用して,関数近似の最小二乗法の原理を使用した。近似法関数の中心波長を本ラインの波長であるとして,解析ソフトウェアを用いてそれを画定した。結果として,「Plasus Specline」ソフトウェアを用いて,スペクトロメータによって採取された各々のスペクトル線の正確なキャリブレーションを実現した。関数近似の工程で,改良ニュートン反復法,様々なローテーション方式およびパターン探索方法を近似法関数を解明するためにそれぞれ使用して,これらの3つの方法の影響について比較した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： イオン源 ,  ニッケル ,  プラズマ ,  発光スペクトル ,  *最小二乗法 ,  真空アーク ,  関数近似 ,  キャリブレーション
準シソーラス用語： MEVVA

分類 (1件)： 数値解析,近似法  (AB04000F)

タイトルに関連する用語 (8件)： MEVVA ,  イオン源 ,  ニッケル ,  プラズマ ,  発光スペクトル ,  診断 ,  最小二乗法 ,  あてはめ