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J-GLOBAL ID：201302288873911601   整理番号：13A0636278

交流インピーダンス測定による錫酸化皮膜の電気特性

Electrical Property of Tin Oxide Film Measured by Alternating Current Impedance Method

著者 (5件)： 伊藤大和 (三重大 大学院工学研究科) ,  飯田和生 (三重大 大学院工学研究科) ,  澤田滋 (三重大 大学院工学研究科) ,  清水敦 (三重大 大学院工学研究科) ,  服部康弘 (オートネットワーク技術研究所)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 432(EMD2012 103-108)  ページ： 13-16  発行年： 2013年02月08日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： コネクタの端子材料として使用される錫めっき表面は常に錫酸化皮膜で覆われており,コネクタの耐食性は酸化皮膜によって保たれている。しかし,酸化皮膜の存在は接触抵抗を高め接触信頼性を害する恐れがある。本研究では,湿度30%RHで放置された錫酸化皮膜の成長と抵抗率・比誘電率を交流源とロックインアンプによる交流インピーダンス測定を使用して同時評価した。測定には電気特性を正確に評価するために錫めっき面に金蒸着を電極とし,液体金属を使用した。その結果,酸化皮膜の比誘電率は6.5,抵抗率は25×10⁴Ωmと評価できた。また,酸化皮膜は放置時間500hまでで10nm程度に成長し,その後は飽和した。接触抵抗も皮膜成長と同傾向を示し500hで10Ω程度であった。(著者抄録)

シソーラス用語： 電気化学インピーダンス ,  *酸化スズ ,  電気特性 ,  酸化膜 ,  コネクタ ,  スズめっき ,  耐食性 ,  端子 ,  接触抵抗 ,  信頼性 ,  電気抵抗率 ,  誘電率 ,  液体金属 ,  保持時間 ,  薄膜成長
準シソーラス用語： *交流インピーダンス ,  *酸化皮膜

分類 (1件)： 界面の電気的性質一般  (BM03081H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 交流 ,  インピーダンス測定 ,  錫 ,  酸化皮膜 ,  電気特性