文献

J-GLOBAL ID：201302290947602031   整理番号：13A0357472

Kapton薄膜での連続レーザ吸収率の波長依存性と温度依存性

Wavelength and temperature dependence of continuous-wave laser absorptance in Kapton thin films

著者 (6件)： PALM William J. (Air Force Res. Lab., New Mexico) ,  MARCINIAK Michael A. (Air Force Inst. Technol., Ohio) ,  PERRAM Glen P. (Air Force Inst. Technol., Ohio) ,  GROSS Kevin C. (Air Force Inst. Technol., Ohio) ,  BAILEY William F. (Air Force Inst. Technol., Ohio) ,  WALTERS Craig T. (Craig Walters Associates, Ohio)
資料名： Optical Engineering  (Optical Engineering)
巻： 51  号： 12  ページ： 121802.1-121802.8  発行年： 2012年12月 
JST資料番号： B0577B  ISSN： 0091-3286  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： Fourier分光法 ,  分光放射率 ,  *PMDA-ODA ,  波長依存性 ,  光学的性質 ,  *レーザ照射 ,  連続レーザ ,  撮像装置 ,  温度依存性 ,  *吸収係数 ,  *高分子薄膜
準シソーラス用語： Kapton ,  スペクトル放射率

分類 (2件)： 光物性一般  (BM08010A) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

タイトルに関連する用語 (6件)： Kapton ,  薄膜 ,  連続レーザ ,  吸収率 ,  波長依存性 ,  温度依存性