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J-GLOBAL ID:201302291069283984   整理番号:13A1321219

蛍光X線ホログラフィーによる局所格子歪みの評価

Evaluation of local lattice distortion by X-ray fluorescence holography
著者 (3件):
資料名:
巻: 26  号:ページ: 195-205  発行年: 2013年07月31日 
JST資料番号: L0956A  ISSN: 0914-9287  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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蛍光X線ホログラフィーは,特定元素周辺を数nmにわたり三次元原子配列を再生できる優れた3D中距離局所構造解析技術である。最近では,原子ゆらぎに対して敏感であることも判明し,局所格子歪みの評価に有効であることが分かってきた。我々はドーパント周辺や混晶に対して,蛍光X線ホログラフィーを適用し,それら格子歪みの状態を評価した。ドーパント周辺では動径方向よりも角度方向に原子がずれやすいことや,同一材料内においても,格子歪みを起こしやすい元素と安定な元素が存在するなど,興味深い事実がいくつも判明した。(著者抄録)
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分類 (1件):
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X線回折法 
引用文献 (28件):
  • HAYASHI, K. J. Phys. : Condens. Matt. 2012, 24, 093201
  • HAYASHI, K. Phys. Rev. B. 2001, 63, R041201
  • HU, W. Phys. Rev. B. 2009, 80, 060202(R)
  • HOSOKAWA, S. Phys. Rev. B. 2009, 80, 134123
  • KOSSEL, W. Z. Phys. 1935, 94, 135
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