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J-GLOBAL ID：201302291856992801   整理番号：13A1927976

走査型電子顕微鏡(SEM)用の断層中軸部小型定方位試料の作製法

A sampling method of oriented small sample from fault cores for SEM observation

著者 (10件)： 島田耕史 (日本原子力研究開発機構 敦賀本部 高速増殖炉研究開発セ) ,  亀高正男 (ダイヤコンサルタント) ,  中山一彦 (日本原子力研究開発機構) ,  瀬下和芳 (日本原子力研究開発機構) ,  田中義浩 (日本原子力研究開発機構) ,  林俊夫 (日本原子力研究開発機構) ,  林俊夫 (応用地質) ,  田中遊雲 (日本原子力研究開発機構 敦賀本部 高速増殖炉研究開発セ) ,  下釜耕太 (ダイヤコンサルタント) ,  岡崎和彦 (ダイヤコンサルタント)
資料名： 地質学雑誌  (Journal of the Geological Society of Japan)
巻： 119  号： 11  ページ： 727-731  発行年： 2013年11月15日 
JST資料番号： F0528A  ISSN： 0016-7630  CODEN： CHTZA5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 断層の最新活動の検討には断層岩類の微小構造を観察する必要がある。近年,走査型電子顕微鏡(SEM)の小型化が進んでおり,現地調査でもSEMによる観察が可能となり,断層ガウジの変位センスを非対称微小構造により特定することが出来るようになってきたが,実用化には,断層中軸部の脆弱な地層の小型定方位試料の作製が不可欠となる。本ノートでは,特別の薬品や複雑な備品を必要とせず,ホチキス針を使用した簡便なSEM用定方位試料作製手法を紹介する。

シソーラス用語： 走査電子顕微鏡 ,  *断層粘土 ,  微細構造 ,  *試料調製 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： 断層ガウジ

分類 (1件)： 地質構造・テクトニクス  (DE04030Y)

引用文献 (12件)：

• Ishiyama, T., Sugito, N., Echigo, T., Sato, H. and Suzuki, T., 2012, Rare normal faulting earthquake induced by subduction megaquake: example from 2011 Tohoku-oki earthquake. Geophys. Res. Abst., 14, EUG2012-7332.
• 地震調査研究推進本部(The Headquaters for Earthquake Research Promotion), 2011, 2011年4月11日福島県浜通りの地震の評価.http://www.jishin.go.jp/main/chousa/11apr_fukushima/p03.htm(2013年10月3日参照)
• 狩野謙一・村田明広(Kano, K. and Murata, A.), 1998, 構造地質学 (Structural Geology). English translation from the original written in Japanese. 朝倉書店(Asakura Publ.), 298p.
• Kirkpatrick, J. D., Rowe, C. D., White, J. C. and Brodsky, E. E., 2013, Silica gel formation during fault slip: evidence from the rock record. Geology, 41, 1015-1018.
• 気象庁(Japan Meteorological Agency), 2011, 「平成23年(2011年)東北地方太平洋沖地震」について(第35報).http://www.jma.go.jp/jma/press/1104/11b/kaisetsu201104111820.pdf

タイトルに関連する用語 (5件)： 走査型電子顕微鏡 ,  SEM ,  断層 ,  試料 ,  作製法