文献

J-GLOBAL ID：201302292414224100   整理番号：13A1149349

自動較正ゲート幅生成と遠隔制御を用いたInGaAs/InP単光子アバランシェダイオード光子計数モジュール

InGaAs/InP SPAD photon-counting module with auto-calibrated gate-width generation and remote control

著者 (7件)： TOSI Alberto (Politecnico di Milano, Milano, ITA) ,  RUGGERI Alessandro (Politecnico di Milano, Milano, ITA) ,  SHEHATA Andrea Bahgat (Politecnico di Milano, Milano, ITA) ,  DELLA FRERA Adriano (Politecnico di Milano, Milano, ITA) ,  SCARCELLA Carmelo (Politecnico di Milano, Milano, ITA) ,  TISA Simone (Micro Photon Devices Srl, Bolzano, ITA) ,  GIUDICE Andrea (Micro Photon Devices Srl, Bolzano, ITA)
資料名： Proceedings of SPIE  (Proceedings of SPIE)
巻： 8631  ページ： 86311G.1-86311G.7  発行年： 2013年 
JST資料番号： D0943A  ISSN： 0277-786X  CODEN： PSISDG  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ゲート幅の自動較正機能と遠隔制御が可能な光子計数モジュールについて報告する。InGaAs/InP単光子アバランシェダイオード(SPAD)を用いた光子計数装置は,1.7μmまでの単一光子を検出でき,モジュール監視,光子計数機能の他に,ゲート幅の生成と較正のための新技術を採用している。ゲート幅は,FPGAを使った遅延生成回路により,500ps~1.5μsの間でプログラム可能である。ゲート幅の自動較正回路は,チップ間の遅延時間変動を補償する。さらに,本光子計数モジュールは,システムを監視するためのマイクロプロセッサ,ローカルユーザーインタフェースのためのタッチスクリーン,スマート遠隔操作のためのイーサネットリンクなどを備えている。開発した光子計数装置は,高いシステム柔軟性を持つと同時に,タインミングジッタが低く,近赤外における単一光子レベルの感度を有する。

シソーラス用語： *アバランシェダイオード ,  *光子計数 ,  近赤外線 ,  ヒ化ガリウムインジウム ,  リン化インジウム ,  化合物半導体 ,  FPGA
準シソーラス用語： *単一光子アバランシェダイオード ,  単一光子計数

分類 (1件)： 光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (9件)： 較正 ,  ゲート幅 ,  遠隔制御 ,  InGaAs ,  InP ,  光子 ,  アバランシェダイオード ,  光子計数 ,  モジュール