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J-GLOBAL ID：201302292550164693   整理番号：13A1500849

非球面の環状サブ開口ステッチ干渉測定のための修正ステッチアルゴリズム

Modified stitching algorithm for annular subaperture stitching interferometry for aspheric surfaces

著者 (5件)： WEN Yongfu (Beijing Inst. of Technol., Beijing, CHN) ,  WEN Yongfu (Ngee Ann Polytechnic, Singapore) ,  CHENG Haobo (Beijing Inst. of Technol., Beijing, CHN) ,  TAM Hon-Yuen (City Univ. Hong Kong, Hong Kong, CHN) ,  ZHOU Dongmei (Beijing Inst. of Technol., Beijing, CHN)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 52  号： 23  ページ： 5686-5694  発行年： 2013年08月10日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *非球面レンズ ,  計算機アルゴリズム ,  最小二乗法 ,  *光干渉法 ,  性能指数 ,  波面収差 ,  環状構造 ,  開口 ,  光学部品検査 ,  標準偏差 ,  干渉縞 ,  *画像分析
準シソーラス用語： ステッチアルゴリズム

分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 非球面 ,  環状 ,  サブ ,  ステッチ ,  干渉測定 ,  アルゴリズム