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J-GLOBAL ID：201302293128637089   整理番号：13A0151689

a-(Se₈₀Te₂₀)₉₆Ag₄薄膜の光学特性への厚みの影響

Influence of thickness on optical properties of a-(Se₈₀Te₂₀)₉₆Ag₄ thin films

著者 (4件)： SINGH D. (Semiconductors Lab., Dep. of Physics, Guru Nanak Dev Univ., Amritsar 143005, Punjab, IND) ,  KUMAR S. (Semiconductors Lab., Dep. of Physics, Guru Nanak Dev Univ., Amritsar 143005, Punjab, IND) ,  THANGARAJ R. (Semiconductors Lab., Dep. of Physics, Guru Nanak Dev Univ., Amritsar 143005, Punjab, IND) ,  SATHIARAJ T.s. (Dep. of Physics, Univ. of Botswana, Botswana)
資料名： Physica B. Condensed Matter  (Physica B. Condensed Matter)
巻： 408  ページ： 119-125  発行年： 2013年01月01日 
JST資料番号： H0676B  ISSN： 0921-4526  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *非晶質半導体 ,  *半導体薄膜 ,  銀化合物 ,  セレン化合物 ,  *テルル化物 ,  カルコゲン化物ガラス ,  急冷凝固 ,  真空蒸着 ,  薄膜成長 ,  *光学定数 ,  *光学ギャップ ,  膜厚

分類 (3件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  光物性一般  (BM08010A) ,  ガラスの性質・分析・試験  (YC02030Z)

タイトルに関連する用語 (3件)： 薄膜 ,  光学特性 ,  厚み