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J-GLOBAL ID：201302293726488381   整理番号：13A0238884

隠れた欠陥を見抜く[非破壊検査]X線フラットパネルディテクタTELEDYNE Rad-icon Imaging

著者 (1件)： 齋藤浩 (アド・サイエンス)
資料名： 映像情報Industrial  (映像情報インダストリアル)
巻： 45  号： 2  ページ： 61-64  発行年： 2013年02月01日 
JST資料番号： Z0577B  ISSN： 1346-1362  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本特集では,隠れた欠陥を見抜くための非破壊検査技術,ならびに製品について紹介していく。本稿では,TRI社のX線CMOSセンサカメラの各シリーズの特徴と仕様について紹介する。当社のX線CMOSセンサカメラは,RedEyeセンサを複数枚並べることによりイメージエリアを構成し,欠陥カラムがないことが特徴である。入射したX線を可視光に変え,フォトダイオードで検出する。これを利用することで,電子部品や工業製品の非破壊検査が可能になる。

シソーラス用語： *非破壊検査 ,  *X線カメラ ,  *センサ
準シソーラス用語： *CMOSセンサ

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  写真機とその付属品  (QF05030V)

タイトルに関連する用語 (4件)： 欠陥 ,  非破壊検査 ,  X線 ,  フラットパネルディテクタ