文献

J-GLOBAL ID：201302294355666636   整理番号：13A1918638

PEG200添加剤による亜鉛電析の際のデンドライト成長の抑制

Suppressing Dendrite Growth during Zinc Electrodeposition by PEG-200 Additive

著者 (2件)： BANIK Stephen J. (Case Western Reserve Univ., Ohio, USA) ,  AKOLKAR Rohan (Case Western Reserve Univ., Ohio, USA)
資料名： Journal of the Electrochemical Society  (Journal of the Electrochemical Society)
巻： 160  号： 11  ページ： D519-D523  発行年： 2013年 
JST資料番号： C0285A  ISSN： 1945-7111  CODEN： JESOAN  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究は,防食被覆層および電池などで問題になるデンドライトの抑制に関連する。著者らは,ハロゲン化物をベースとする電解質から亜鉛が電析する際のデンドライトを抑制について検討し,電解質添加剤としてのポリエチレングリコール(PEG,分子量=200)の使用について試験した。著者らは,亜鉛電池に使用した場合の安定性および破壊または分解への耐性をベースとして前記分子量のPEGを選択した。in situ光学顕微鏡法を使用して,Znデンドライトの成長をモニタした。PEGの存在下でのZn電析の際の回転ディスク電極上での電極分極測定によって,PEGの電析速度の抑制におけるPEGの役割が解明された。また,デンドライト成長に関する簡易モデルを開発し,PEGの存在下でZnデンドライト抑制の有効性を計算した。モデルによる予測と実験的観測との間の良好な一致が示された。

シソーラス用語： *ポリエチレンオキシド ,  *亜鉛 ,  *電着 ,  *樹枝状結晶 ,  抑制 ,  結晶成長 ,  *添加剤 ,  電解質 ,  塩化亜鉛 ,  水溶液 ,  被覆層 ,  耐食性 ,  電池 ,  安定性 ,  耐性 ,  分子量 ,  円盤電極 ,  分極 ,  反応速度 ,  数学モデル ,  有効性 ,  予測 ,  測定データ ,  光学顕微鏡法 ,  クロノアンペロメトリー ,  過電圧 ,  濃度依存性 ,  抑制剤 ,  添加物効果
準シソーラス用語： *PEG200 ,  デンドライト成長 ,  モデル予測 ,  回転ディスク電極 ,  活性化過電圧 ,  簡易モデル ,  成長モデル ,  析出速度 ,  防食被覆

分類 (4件)： 無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  電気化学一般  (CB07010N) ,  高分子溶液の物性一般  (CG02011K) ,  金属の結晶成長  (BK13030M)

タイトルに関連する用語 (5件)： PEG200 ,  添加剤 ,  亜鉛 ,  電析 ,  デンドライト成長