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J-GLOBAL ID：201302294597702190   整理番号：13A0003842

Ba_8-xEu_xCu_ySi_46-y公称成分の貴金属シリコン包接化合物の熱電性質に及ぼすユウロピウム置換の効果

Effect of Europium Substitution on Thermoelectric Properties of Noble-Metal Silicon Clathrates with Ba_8-xEu_xCu_ySi_46-y Nominal Compositions

著者 (7件)： ANNO H. (Dep. of Electrical Engineering, Tokyo Univ. of Sci., Yamaguchi) ,  OKITA K. (Dep. of Electrical Engineering, Tokyo Univ. of Sci., Yamaguchi) ,  KOGA K. (Kobelco Res. Inst., Inc.) ,  HARIMA S. (Dep. of Electrical Engineering, Tokyo Univ. of Sci., Yamaguchi) ,  NAKABAYASHI T. (Dep. of Electrical Engineering, Tokyo Univ. of Sci., Yamaguchi) ,  HOKAZONO M. (Dep. of Electrical Engineering, Tokyo Univ. of Sci., Yamaguchi) ,  AKAI K. (Media and Information Technol. Center, Yamaguchi Univ.)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 53  号： 7  ページ： 1220-1225 (J-STAGE)  発行年： 2012年 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 公称成分Ba_8-xEu_xCu_ySi_46-y(x=0,1,2;y=4,5,6)の包接化合物の電子的,熱電性質に及ぼすゲスト元素の希土類元素の置換の効果を調べる。希土類元素で置換したBa_8-xEu_xCu_ySi_46-yサンプルのSeebeck係数および電気伝導度は,n型伝導および金属的挙動と一致している。Ba_8-xEu_xCu₆Si₄₀の室温でのHall担体移動度は,Eu置換の増加とともに減少する。希土類元素で置換したBa_8-xEu_xCu₆Si₄₀(x=1,2)の伝導バンド効果有効質量は,実験での評価ではBa₈Cu₆Si₄₀のそれより大きい。Ba₆Eu₂Cu₆Si₄₀およびBa₈Cu₆Si₄₀の電子構造第一原理計算に基づいた推論では,Ba₈Cu₆Si₄₀の伝導バンドエッジがゲスト原子BaのEu置換によって変更され,実験結果と一致する状態密度実効質量の増加をもたらす。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *バリウム化合物 ,  *ユウロピウム化合物 ,  *銅化合物 ,  *ケイ化物 ,  *包接化合物 ,  *電気特性 ,  輸送係数 ,  電気伝導率 ,  置換 ,  電子構造 ,  計算 ,  状態密度 ,  Hall移動度 ,  キャリア移動度
準シソーラス用語： Seebeck係数 ,  第一原理計算 ,  *熱電特性

分類 (1件)： 半導体結晶の電気伝導  (BM03043X)

引用文献 (35件)：

• 1) G. A. Slack: Proc. Mat. Res. Soc. Symp. Vol. 478, eds. by T. M. Tritt, M. G. Kanatzidis, H. B. Lyon, Jr. and G. D. Mahan, (MRS Press, Warrendale, Pennsylvania, 1997) pp. 47–54.
• 2) J. L. Cohn, G. S. Nolas, V. Fessatidis, T. H. Metcalf and G. A. Slack: Phys. Rev. Lett. 82 (1999) 779–782.
• 3) G. Nolas, J. L. Cohn, G. A. Slack and S. B. Schujman: Appl. Phys. Lett. 73 (1998) 178–180.
• 4) H. Anno, M. Hokazono, M. Kawamura and K. Matsubara: Proc. 22nd. Int. Conf. on Thermoelectrics (ICT2003), (IEEE, Piscataway, New Jersey, 2003) pp. 121–126.
• 5) M. Hokazono, M. Kawamura, H. Anno and K. Matsubara: Trans. MRS-J. 29 (2004) 2793–2796.

タイトルに関連する用語 (5件)： 貴金属 ,  シリコン包接化合物 ,  性質 ,  ユウロピウム ,  置換