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J-GLOBAL ID：201302296089944750   整理番号：13A1182697

T2000 IMSによる高効率な超多数個同時測定の実現

High Efficiency Massive Parallel Test Capability of T2000 Integrated Massive Parallel test solution

著者 (1件)： 原幸司 (アドバンテスト)
資料名： Probo  (Probo)
号： 40  ページ： 56-60  発行年： 2013年07月02日 
JST資料番号： L1550A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 進歩が目覚ましい昨今のアナログやフラッシュ・メモリ内蔵マイコン,およびスマートカード向けICは,製造コストが非常に重要視されるコスト・センシティブなデバイスである。市場からはそれらのデバイスのテスト・コスト削減要求が高まっている。今回はユニバーサル・ピン・アーキテクチャの導入とハードウェアの改善によりテスト・コストを50%削減することができた。(著者抄録)

シソーラス用語： *回路試験器 ,  電気試験 ,  *集積回路 ,  原価低減 ,  ハードウェア試験
準シソーラス用語： *集積回路試験 ,  コスト削減

分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (3件)： IMS ,  高効率 ,  同時測定