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J-GLOBAL ID：201302296102347456   整理番号：13A0750035

低温化学洗浄によるレーザ損傷閾値の高い多層誘電体パルス圧縮格子の性能向上

Improving the performance of high-laser-damage-threshold, multilayer dielectric pulse-compression gratings through low-temperature chemical cleaning

著者 (17件)： HOWARD Heather P. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  AIELLO Anthony F. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  DRESSLER Justin G. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  EDWARDS Nicholas R. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  KESSLER Terrance J. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  KOZLOV Alexei A. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  MANWARING Ian R. T. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  MARSHALL Kenneth L. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  OLIVER James B. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  PAPERNOV Semyon (Univ. Rochester, New York, USA) ,  RIGATTI Amy L. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  ROUX Alycia N. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  SCHMID Ansgar W. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  SLANEY Nicholas P. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  SMITH Christopher C. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  TAYLOR Brittany N. (Univ. Rochester, New York, USA) ,  JACOBS Stephen D. (Univ. Rochester, New York, USA)
資料名： Applied Optics  (Applied Optics)
巻： 52  号： 8  ページ： 1682-1692  発行年： 2013年03月10日 
JST資料番号： B0026B  ISSN： 1559-128X  CODEN： APOPAI  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： レーザシステム ,  光電子分光法 ,  *レーザ損傷 ,  *パルス圧縮 ,  誘電体薄膜 ,  多層膜 ,  閾値 ,  化学洗浄 ,  低温 ,  *レーザパルス ,  *回折格子
準シソーラス用語： 性能向上

分類 (3件)： 光デバイス一般  (BD06010L) ,  レーザ一般  (BD04030T) ,  レーザ照射・損傷  (BK16040S)

タイトルに関連する用語 (8件)： 低温 ,  化学洗浄 ,  レーザ損傷閾値 ,  多層 ,  誘電体 ,  パルス圧縮 ,  格子 ,  性能向上