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J-GLOBAL ID：201302296588916708   整理番号：13A1561641

サニャク型横方向シヤリング干渉計の光路長差および横方向変位

Optical path difference and lateral displacement of Sagnac lateral shearing interferometer

著者 (4件)： AI Jingjing (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  ZHANG Chunmin (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN) ,  ZHANG Chunmin (Key Lab., Ministry of Education, Xi’an, CHN) ,  GAO Peng (Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
資料名： Journal of Modern Optics  (Journal of Modern Optics)
巻： 60  号： 8/9  ページ： 646-658  発行年： 2013年05月10日 
JST資料番号： D0250A  ISSN： 0950-0340  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 干渉イメージング分光計は,2つのカテゴリー,即ち,時間的に変調される干渉イメージング分光計(TMIIS)と空間的に変調される干渉イメージング分光計(SMIIS)に分類される。マイケルソン干渉計を基本とするTMIISは,精度の高いミラー掃引機構を要し,時間分解能は機械的最大掃引速度によって制限される。対照的に,インターフェログラムが空間領域内に見い出されるSMIISは,移動部品を全く必要としない。最近では,小型で,時間的および空間的分解能の優れた,SMIISが,世界的に注目されている。本稿では,サニャク型横方向シヤリング干渉計の光路長差(OPD),Δ,の正確な表式をプリズム展開法によって計算し,横方向変位,d,を求めた結果を報告する。更に,計算器シミュレーションによって,Δおよびdに対する入射角,i,および入射面とサニャク型横方向シヤリング干渉計の底面のなす角,θ,を含む様々なパラメータの影響を詳細に評価した。得られた結果は,サニャク型横方向シヤリング干渉計のスペクトル分解能を改善するために非常に有用であることが分かった。

シソーラス用語： *干渉計 ,  分光計 ,  信号変調 ,  *画像処理 ,  *シヤリング干渉計 ,  パラメータ ,  変位 ,  長さ
準シソーラス用語： *Sagnac干渉計 ,  干渉イメージング分光計 ,  時間変調 ,  空間変調 ,  光路長差

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 横方向 ,  シヤリング干渉計 ,  光路長 ,  横方向変位