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J-GLOBAL ID：201302297176538730   整理番号：13A0038216

プリント基板絶縁劣化のスクリーニング技術

The screening method for insulation degradation of printed writing boards

著者 (3件)： 黒川博志 (菱電化成 分析セ) ,  松岡敏成 (三菱電機 姫路製作所) ,  八木超 (三菱電機 姫路製作所)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 112  号： 284(R2012 60-67)  ページ： 11-16  発行年： 2012年11月08日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： プリント基板では高温高湿試験等での絶縁劣化に対する信頼性試験が実施される。この信頼性試験には長時間を要するという課題があり,抜き取り試験であることから,精度の向上も求められている。ここでは,プリント基板からのイオン,金属の溶出量を評価することにより,信頼性評価に対する高速で高精度なスクリーニング技術を開発した。(著者抄録)

シソーラス用語： *プリント基板 ,  絶縁劣化 ,  スクリーニング ,  評価 ,  品質工学 ,  パターン分類 ,  故障解析 ,  *故障検出
準シソーラス用語： 信頼性評価

分類 (2件)： プリント回路  (NA05040O) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (3件)： プリント基板 ,  絶縁劣化 ,  スクリーニング