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J-GLOBAL ID:201302299905804871   整理番号:13A1818623

X線吸収分光法により調べられた低次元系:2D,1D,そして0Dケースの選択

Low-dimensional systems investigated by x-ray absorption spectroscopy: a selection of 2D, 1D and 0D cases
著者 (8件):
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巻: 46  号: 42  ページ: 423001,1-72  発行年: 2013年10月23日 
JST資料番号: B0092B  ISSN: 0022-3727  CODEN: JPAPBE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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このレビューは局所構造の決定のためのツールとしてX線吸収分光法(XAS)の導入から始める。微細構造の物理的起源が説明され,微細構造の物理的起源が説明され,そして,基本的検出モードと実験設定が紹介される。さらに,選択された例で使用されるいくつかの進んだ方法と補足的な特性評価技術が紹介される。そして,2D,1D,そして0D系へのXASの関連する応用に向けられる。選択された低次元系はIV,III-V,そしてII-VI半導体膜,量子ワイヤそして量子ドット(QD);炭素ベースナノ材料(エピタキシャルグラフェンやカーボンナノチューブ(CNT));金属酸化物(MOX)膜,ナノワイヤ(NW),ナノロッド(NR),そしてナノ結晶;金属ナノ粒子を含む。最後に,ナノ構造に対するXASの応用のための考えられる将来展望が検討される。
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分類 (2件):
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X線技術  ,  X線スペクトル一般 
タイトルに関連する用語 (4件):
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