特許
J-GLOBAL ID：201303000103581271
電源装置、試験方法、電源評価装置、電源の評価方法、電源環境のエミュレート方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
森下 賢樹
, 村田 雄祐
, 三木 友由
, 真家 大樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-160611
公開番号（公開出願番号）：特開2013-228406
出願日： 2013年08月01日
公開日（公表日）： 2013年11月07日
要約：
【課題】任意の電源環境をエミュレートする。【解決手段】メイン電源10は、DUT100の電源端子102に電源電圧Vddを供給する。制御パターン生成部22は、パルス列を含む制御パターンCNTを生成する。補償回路20は、制御パターンCNTに応じて間欠的に、メイン電源10とは別の経路からDUT100の電源端子102に補償電流Icmpを注入する。スイッチ20bは電圧源20aの出力端子とDUT100の電源端子102の間に設けられ、制御パターンCNTに応じてオン、オフが切りかえられる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
エミュレート機能付き電源装置であって、
被試験デバイスの電源端子に電源電圧を供給するメイン電源と、
パルス列を含む制御パターンを生成する制御パターン生成部と、
前記被試験デバイスが所定の処理を実行する間、前記被試験デバイスの電源端子に前記制御パターンに応じて間欠的に補償電流を注入し、および/または前記メイン電源からの電源電流の一部を補償電流として前記被試験デバイスとは別の経路に引き込む補償回路と、
を備え、
前記制御パターン生成部は、
前記被試験デバイスが前記所定の処理を実行するときに前記被試験デバイスを流れると予測されるデバイス電流の波形を単位パルス電流の重ね合わせの形式で定義する予測デバイス電流波形データを生成するデバイス電流モデリング部と、
前記メイン電源から前記単位パルス電流を引き抜いたとき、それに応答して前記メイン電源が吐き出し、および/または吸い込む出力電流の波形を記述する第1インパルス応答波形データを提供する第1インパルス応答波形データ提供部と、
エミュレート対象の電源から前記単位パルス電流を引き抜いたとき、それに応答して前記エミュレート対象の電源が吐き出し、および/または吸い込む出力電流の波形を記述する第2インパルス応答波形データを提供する第2インパルス応答波形データ提供部と、
前記予測デバイス電流波形データが記述する波形と前記第1インパルス応答波形データが記述する波形とを畳み込みするとともに、前記予測デバイス電流波形データが記述する波形と前記第2インパルス応答波形データが記述する波形とを畳み込みし、2つの畳み込みにより得られる2つの波形の差分波形にもとづき、前記制御パターンを生成する制御パターン演算部と、
を含むことを特徴とする電源装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (7件)：
2G132AA03
, 2G132AA08
, 2G132AB01
, 2G132AE22
, 2G132AE27
, 2G132AG01
, 2G132AL11
