特許
J-GLOBAL ID：201303000647940852
高速XAFS計測装置及びその作動方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (6件)：
小野 新次郎
, 小林 泰
, 千葉 昭男
, 富田 博行
, 松山 美奈子
, 森下 梓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-150742
公開番号（公開出願番号）：特開2013-019678
出願日： 2011年07月07日
公開日（公表日）： 2013年01月31日
要約：
【課題】濃度の希薄な各種の材料物質の構造や電子状態が化学反応によって変化する様子を、10ミリ秒以下の時間分解能でその場観察する技術の提供。【解決手段】X線応答時間が10マイクロ秒以下の入射X線検出器、X線応答時間が10マイクロ秒以下の透過X線検出器、及びX線応答時間が10マイクロ秒以下の蛍光X線検出器、を具備するXAFS計測装置。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
試料に入射するX線を検出する入射X線検出器、
試料を透過したX線を検出する透過X線検出器、及び
試料から発せられる蛍光X線を検出する蛍光X線検出器、
を具備しており、入射X線検出器及び透過X線検出器がイオンチェンバー検出器であり、当該イオンチェンバー検出器を構成する2枚の電極のX線光軸方向の長さが200〜400mm、電極の間隔が1〜3mmである、高速XAFS計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (7件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001GA01
, 2G001GA12
