特許
J-GLOBAL ID:201303006652679710
パターン形成方法、モールドの回復方法、およびレプリカモールドの製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
森下 賢樹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-278167
公開番号(公開出願番号):特開2013-131524
出願日: 2011年12月20日
公開日(公表日): 2013年07月04日
要約:
【課題】ナノインプリントリソグラフィにおいてモールドに付着した樹脂等を除去する技術を提供する。【解決手段】 ナノインプリント用モールド14を用いて樹脂12にパターンを形成する工程と、パターンの形成に使用されたナノインプリント用モールド14に対して原子状水素を照射することにより、樹脂22が付着している場合に当該樹脂12を除去する工程と、を含む。付着した樹脂22が除去されたモールド14は、再びパターンの形成に使用することができる。【選択図】図3
請求項(抜粋):
ナノインプリント用モールドを用いて樹脂にパターンを形成する工程と、
パターンの形成に使用された前記ナノインプリント用モールドに対して原子状水素を照射することにより、樹脂が付着している場合に当該樹脂を除去する工程と、を含むことを特徴とするパターン形成方法。
IPC (3件):
H01L 21/027
, B29C 59/02
, B29C 33/72
FI (3件):
H01L21/30 502D
, B29C59/02 Z
, B29C33/72
Fターム (19件):
4F202AM10
, 4F202CA19
, 4F202CB29
, 4F202CS02
, 4F209AA44
, 4F209AF01
, 4F209AG05
, 4F209AH33
, 4F209AH73
, 4F209AJ02
, 4F209AJ03
, 4F209AJ06
, 4F209PA02
, 4F209PB01
, 4F209PC01
, 4F209PQ11
, 4F209PQ14
, 4F209PQ20
, 5F146AA34
引用特許:
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