特許

J-GLOBAL ID：201303007598771998

スペクトロメータ

発明者： イブ、デュポン
出願人/特許権者： ビオ-ロジ
代理人 (5件)： 勝沼 宏仁 ,  佐藤 泰和 ,  川崎 康 ,  関根 毅 ,  大浦 裕美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-029810
公開番号（公開出願番号）：特開2013-171046
出願日： 2013年02月19日
公開日（公表日）： 2013年09月02日
要約：

【課題】サンプルの詳細な分析のために、有用な広帯域の放射線をもつスペクトロメータを提供する。【解決手段】スペクトロメータは、電磁放射線3を放射する放射源2と、前記電磁放射線3に基づいて単色放射線を選択するように構成された選択装置5と、前記放射源2により放射された前記電磁放射線3の波長に対応したフォーカス位置を定めるように構成され、且つ、前記選択装置の入力に対して前記フォーカス位置を動かすように構成されたフォーカス装置4と、前記単色放射線12を受光するためのサンプル7を収容するベッセル6と、前記サンプル7によって透過され又は放射された放射線を分析する分析器8と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

- 電磁放射線(3)を放射する放射源(2)と、 - 前記電磁放射線(3)に基づいて単色放射線を選択するように構成された選択装置(5)と、 を備えるスペクトロメータであって、 - 前記放射源(2)により放射された前記電磁放射線(3)の波長に対応したフォーカス位置を定めるように構成され、且つ、前記選択装置の入力に対して前記フォーカス位置を動かすように構成されたフォーカス装置(4)と、 - 前記単色放射線(12)を受光するためのサンプル(7)を収容するベッセル(6)と、 - 前記サンプルにより透過され又は放射された放射線を分析する分析器(8)と、 を備えることを特徴とするスペクトロメータ。

IPC (2件)：

G01J 3/10 ,  G01N 21/01

FI (2件)：

G01J3/10 ,  G01N21/01 D

Fターム (28件)：

2G020BA02 ,  2G020CA01 ,  2G020CA02 ,  2G020CB07 ,  2G020CB26 ,  2G020CB32 ,  2G020CB33 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CB54 ,  2G020CC02 ,  2G020CC13 ,  2G020CC42 ,  2G020CD22 ,  2G059AA01 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE07 ,  2G059GG03 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ11 ,  2G059KK01 ,  2G059LL01

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-066423
  
• 特開昭63-066423