特許
J-GLOBAL ID：201303012299881829
機器点検支援システム、機器点検支援方法及びプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
藤田 考晴
, 上田 邦生
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-146432
公開番号（公開出願番号）：特開2013-015899
出願日： 2011年06月30日
公開日（公表日）： 2013年01月24日
要約：
【課題】作業効率を向上させ、作業時間を短縮化することが可能な機器点検支援システム、機器点検支援方法及びプログラムを提供することを目的とする。【解決手段】機器点検支援システム1は、機器に関する点検作業項目を保持するSV点検支援システム用データベース5,8と、点検対象とされる機器に関する機器情報を取得し、機器情報に基づいて記憶手段から点検作業項目を抽出し、点検対象とされる機器に関する複数の点検作業項目からなる点検作業リストを作成する作業項目管理手段11とを備える。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
機器に関する点検作業項目を保持する記憶手段と、
点検対象とされる機器に関する機器情報を取得する取得手段と、
前記機器情報に基づいて前記記憶手段から前記点検作業項目を抽出し、前記点検対象とされる機器に関する複数の点検作業項目からなる点検作業リストを作成するリスト作成手段と、
を備える機器点検支援システム。
IPC (4件)：
G05B 23/02
, F01D 25/00
, F02C 7/00
, F02C 9/00
G05B23/02 T
, G05B23/02 301U
, G05B23/02 301T
, F01D25/00 X
, F02C7/00 A
, F02C9/00 A
5H223AA02
, 5H223DD03
, 5H223EE06
, 5H223FF03
