特許
J-GLOBAL ID：201303013667187373
磁性体の探傷方法及び探傷装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
井上 学
, 戸田 裕二
, 岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-025674
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160739
出願日： 2012年02月09日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
要約：
【課題】本発明は、磁性体の表面欠陥と表層欠陥、及び内部欠陥を識別可能な磁性体検査方法及び装置を提供することを目的とする。【解決手段】本発明は、磁性体を磁化すると共に渦電流を発生させ、磁性体表面の磁場信号を磁気センサで検出する第1工程と、前記検出した磁場信号から漏洩磁束信号と渦電流信号を取り出す第2工程と、前記漏洩磁束信号により表面欠陥、表層欠陥、内部欠陥のいずれかを検出する第3工程と、前記渦電流信号により表面欠陥と表層欠陥の識別を行う第4工程を備えたことを特徴とする。【効果】本発明によれば、磁性体の表面欠陥と表層欠陥、及び内部欠陥を識別可能な磁性体検査方法及び装置を提供することが可能である。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
磁性体を磁化すると共に渦電流を発生させ、磁性体表面の磁場信号を磁気センサで検出する第1工程と、
前記検出した磁場信号から漏洩磁束信号と渦電流信号を取り出す第2工程と、
前記漏洩磁束信号により表面欠陥、表層欠陥、内部欠陥のいずれかを検出する第3工程と、
前記渦電流信号により表面欠陥と表層欠陥の識別を行う第4工程を備えたことを特徴とする磁性体の探傷方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G053AA11
, 2G053AB21
, 2G053AB22
, 2G053BA02
, 2G053BB11
, 2G053BC02
, 2G053BC03
, 2G053BC14
, 2G053CB12
, 2G053CB17
, 2G053CB24
