特許

J-GLOBAL ID：201303015171217631

塑性ひずみの評価システムおよび評価方法

発明者： 王 ユウ ,  石橋 良 ,  金田 潤也 ,  丸野 祐策 ,  越石 正人
出願人/特許権者： 日立GEニュークリア・エナジー株式会社
代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-224130
公開番号（公開出願番号）：特開2013-083574
出願日： 2011年10月11日
公開日（公表日）： 2013年05月09日
要約：

【課題】測定対象物の表面の塑性ひずみを非破壊的に評価することが可能なシステムおよび方法を提供する。【解決手段】測定対象物の表面にX線を入射し、X線の回折角と回折強度を計測するX線回折装置と、X線の回折角と回折強度からX線回折強度曲線を得るとともに、測定対象物の試験片を用いて予め求めた、X線回折強度曲線の半価幅と塑性ひずみとの関係、およびX線回折強度曲線の積分幅と塑性ひずみとの関係のうち、少なくともいずれか1つの関係についてのデータを有する画像解析装置とを備える。画像解析装置は、X線回折装置で得た測定対象物のX線回折強度曲線の半価幅および積分幅のうち、少なくともいずれか1つの値と、この値と塑性ひずみとの関係を表すデータとから、測定対象物の塑性ひずみを求める。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

測定対象物の表面にX線を入射し、前記X線の回折角と回折強度を計測するX線回折装置と、 前記X線の回折角と回折強度からX線回折強度曲線を得るとともに、前記測定対象物の試験片を用いて予め求めた、前記X線回折強度曲線の半価幅と塑性ひずみとの関係、および前記X線回折強度曲線の積分幅と塑性ひずみとの関係のうち、少なくともいずれか1つの関係についてのデータを有する画像解析装置とを備え、 前記画像解析装置は、前記X線回折装置で得た前記測定対象物のX線回折強度曲線の半価幅および積分幅のうち、少なくともいずれか1つの値と、この値と塑性ひずみとの関係を表す前記データとから、前記測定対象物の塑性ひずみを求める、 ことを特徴とする塑性ひずみ評価システム。

IPC (1件)：

G01N 23/207

FI (1件)：

G01N23/207

Fターム (8件)：

2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001KA03 ,  2G001KA07 ,  2G001LA02