特許
J-GLOBAL ID:201303015946968973

評判分析装置、評判分析方法及び評判分析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 小林 博通 ,  鵜澤 英久 ,  山口 幸二 ,  橋本 剛
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-016122
公開番号(公開出願番号):特開2011-154576
特許番号:特許第5286298号
出願日: 2010年01月28日
公開日(公表日): 2011年08月11日
請求項(抜粋):
【請求項1】 分析対象キーワード及び分析対象所属カテゴリに基づき分析対象記事の評判を分析する評判分析装置であって、 分析対象が所属するカテゴリが概念的な上下関係に基づく木構造の階層の各層に配されこの各層のカテゴリに評判情報を示す仮説がその評価情報を伴って付与されてなる仮説群を予め格納した階層型仮説オントロジと、 入力された分析対象所属カテゴリに合致したカテゴリ及びこれに付属した仮説並びに評価情報を前記階層型仮説オントロジから抽出する評判仮説作成手段と、 前記抽出されたカテゴリ及びこれに付属した仮説並びに評価情報を格納する仮説テーブルと、 入力された分析対象記事に対し、前記仮説テーブルに格納された仮説が含意しているか否かの判定を行い、前記含意していると判定された仮説とこの仮説に付与された評価情報を前記仮説テーブルから引き出し、この引き出した仮説及び評価情報に基づく評価分析結果に入力された分析対象キーワードを付したものを評判分析結果として出力する認識手段と を備えたこと を特徴とする評判分析装置。
IPC (4件):
G06F 17/30 ( 200 6.01) ,  G06F 17/27 ( 200 6.01) ,  G06F 17/21 ( 200 6.01) ,  G06F 19/00 ( 201 1.01)
FI (5件):
G06F 17/30 220 Z ,  G06F 17/30 170 A ,  G06F 17/27 Z ,  G06F 17/21 550 A ,  G06F 19/00 130

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