特許

J-GLOBAL ID：201303018035993210

光子計数型のX線コンピュータ断層装置及び散乱線補正方法

発明者： 森安 健太
出願人/特許権者： 株式会社東芝 ,  東芝メディカルシステムズ株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-181151
公開番号（公開出願番号）：特開2013-056149
出願日： 2012年08月17日
公開日（公表日）： 2013年03月28日
要約：

【課題】定量的に散乱線補正を行なうことができ、正確で、かつ、精度のよい光子計数型X線CT装置の提供。【解決手段】光子計数型X線CT装置1は、最大エネルギーが特性X線の最大ピークエネルギーより大きいか等しい第1エネルギー領域に相当するX線光子に基づいて第1減弱係数マップを生成する減弱係数マップ生成部63と、第1減弱係数マップを第2エネルギー領域の第2減弱係数マップに変換する減弱係数マップ変換部64と、第2減弱係数マップに基づいて散乱線シミュレーションを行なって散乱X線光子の散乱光子分布を生成するシミュレーション実行部65と、第2エネルギー領域に相当するX線光子に基づいて再構成前のデータを生成し、再構成前のデータを散乱光子分布で補正処理して補正データを弁別するエネルギー弁別部62と、補正データに基づいて第2エネルギー領域に相当する、散乱線補正された画像を再構成する画像再構成部67と、を有する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

最大エネルギーが特性X線の最大ピークエネルギーより大きいエネルギーであるX線光子を発生するX線管と、 前記X線光子を検出するX線検出物質と、 前記特性X線の最大ピークエネルギーを含む第1エネルギー領域に相当する第1減弱係数マップを生成する減弱係数マップ生成手段と、 前記第1減弱係数マップを、前記第1エネルギー領域とは異なる領域である第2エネルギー領域の第2減弱係数マップに変換する減弱係数マップ変換手段と、 前記第2減弱係数マップに基づいて散乱線シミュレーションを行なって散乱X線光子の散乱光子分布を生成するシミュレーション実行手段と、 前記第2エネルギー領域に相当する、前記検出されたX線光子に基づいて再構成前のデータを生成し、前記再構成前のデータを前記散乱光子分布で補正処理して補正データを生成し、前記補正データに基づいて、前記第2エネルギー領域に相当する、散乱線補正された画像を再構成する画像再構成手段と、 を有する光子計数型のX線コンピュータ断層装置。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (1件)：

A61B6/03 320Z

Fターム (9件)：

4C093AA22 ,  4C093AA30 ,  4C093EA07 ,  4C093EB12 ,  4C093EB13 ,  4C093FA15 ,  4C093FC26 ,  4C093FD09 ,  4C093FE12