特許
J-GLOBAL ID：201303018478203653
膜厚測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山田 卓二
, 田中 光雄
, 本庄 武男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-242425
公開番号（公開出願番号）：特開2013-096948
出願日： 2011年11月04日
公開日（公表日）： 2013年05月20日
要約：
【課題】作業者に負担をかけることなく、比較的安価な構成で透明で且つ膜厚が薄い紙材料からなる印刷物の膜厚測定を正確に行うことができる膜厚測定装置を提供する。【解決手段】膜厚測定装置1は、大略、光源2、受光サンサ3及び受光センサ3と電気的に接続された演算処理部4を備えてなり、紙材料からなる基材6上に形成された塗布膜8の表面に所定波長の光を出射し、該塗布膜8から反射した反射光の光量、すなわち電圧を測定し、塗布膜8の厚みに対応する電圧と塗布材の膜厚とが関連付けられた検量線に基づき膜厚を演算する。光源2として波長が570nm〜592nmにピークを有する光を用いると共に、塗布膜8に入射する入射光と該入射光の入射点における塗布膜8に垂直な仮想垂線14とでなす角度を0度〜10度としたので、透明で且つ膜厚が0.5μm〜2.0μm以下の印刷物を測定した場合でも、正確な膜厚の値を得ることができる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
紙材料からなる基材に塗布された塗布膜の厚みを測定する膜厚測定装置であって、
前記塗布膜に向けて所定の波長の光を所定の角度をもって出射する投光手段と、
前記塗布膜から所定の角度で反射される前記光を受光する受光手段と、
前記投光手段から出射され、前記塗布膜で反射した光以外の光が前記受光手段に入射することを遮断する遮光手段と、
前記反射光の光量を電圧に変化する変換手段と、
前記変換手段により得られた電圧と前記塗布材の膜厚との予め定められた関係に基づき、前記電圧から膜厚を演算する演算手段が備えられていることを特徴とする膜厚測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (14件)：
2F065AA30
, 2F065BB01
, 2F065BB11
, 2F065BB22
, 2F065CC02
, 2F065CC31
, 2F065FF44
, 2F065GG04
, 2F065GG21
, 2F065HH12
, 2F065HH13
, 2F065JJ08
, 2F065LL30
, 2F065QQ23
