特許

J-GLOBAL ID：201303019220121489

機械診断方法と装置

発明者： ハインツ・フォッケ ,  トーマス・ヘフカー ,  ハルトムート・オルプリヒ
出願人/特許権者： フォッケ・ウント・コンパニー(ゲゼルシャフト・ミト・べシュレンクテル・ハフツング・ウント・コンパニー・コマンデイトゲゼルシャフト)
代理人 (5件)： 江崎 光史 ,  鍛冶澤 實 ,  今村 良太 ,  清田 栄章 ,  橋本 良郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-296706
公開番号（公開出願番号）：特開2001-151205
特許番号：特許第4854839号
出願日： 2000年09月28日
公開日（公表日）： 2001年06月05日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 シガレット(12)および/またはシガレットパケット(11)のような製品を製造する機械(10)、特に、シガレット包装機の診断方法であって、この機械(10)において、多数のサブアッセンブリー(13,17,19,28,29,35,38)が周期的に作動しており、このために特定の数のツール(15.16.27.30.39.40)を有し、その際当該機械は、それぞれが多数のツールを有する、多数のサブアッセンブリーを備えており、製品(11,12)が欠陥を検査され、欠陥製品を指示する信号(46)が発生され、その際、欠陥指示信号(46)が、欠陥製品(11,12)の1または2以上の周期の周期性について評価され、周期性が決定される前記方法において、 サブアセンブリー(13,17,19,28,29,35,38)内における最大限の許容可能な欠陥頻度(L1)または評価された欠陥発生確率が、このサブアセンブリーのツールの現時点の平均の欠陥頻度値(P)または欠陥発生確率よりも大きくないとき、および/または、最大限の許容可能な差分値(L2)が、ツール(15,16,27,30,39,40)の欠陥頻度(P1,P2,P3,...,PX,...,PN)または評価された欠陥発生確率と、このツールに属するサブアセンブリー(13,17,19,28,29,35,38)のツール(15,16,27,30,39,40)の平均の欠陥頻度値(P)または欠陥発生確率との間の差よりも大きくないとき、機械停止信号が発生されることを特徴とする前記方法。

IPC (2件)：

B65B 19/28 ( 200 6.01) ,  G05B 23/02 ( 200 6.01)

FI (2件)：

B65B 19/28 ,  G05B 23/02 T

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭52-093385
  
• 不良解析装置およびその方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-009967   出願人：株式会社日立製作所
• 特開昭52-093385