特許

J-GLOBAL ID：201303023416477254

光学機器の設計支援方法、設計支援装置、およびプログラムを記録した記録媒体

発明者： 及川 研
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 丸山 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-122125
公開番号（公開出願番号）：特開2013-246780
出願日： 2012年05月29日
公開日（公表日）： 2013年12月09日
要約：

【課題】有限要素法のモデルデータにおける節点の位置精度をそれほど要求することなく、部品変形後の高精度なシミュレーションをより簡単に行う。【解決手段】有限要素法データに含まれる節点から光学部品の表面形状に対応する節点(2)を抽出する表面抽出工程と、光学部品の変形前および変形後の節点位置の変位量(4)を抽出された節点(2)それぞれについて算出する変位量算出工程と、変位量算出工程で算出された変位量(4)および光学部品データによる表面(1)に基づいて変形後の仮想節点(6)による表面形状を定義する数式を確定し、該数式を用いて変形後の表面形状における光線追跡を行う変形後追跡工程と、を有する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

1つ以上の光学部品の表面形状を表す光学部品データと、該光学部品についての有限要素法データと、に基づいて光線追跡を行う光学機器の設計支援方法であって、 前記有限要素法データに含まれる節点から前記光学部品の表面形状に対応する節点を抽出する表面抽出工程と、 前記光学部品の変形前および変形後の節点位置の変位量を前記抽出された節点それぞれについて算出する変位量算出工程と、 前記変位量算出工程で算出された変位量および前記光学部品データに基づいて変形後の表面形状を定義する数式を確定し、該数式を用いて変形後の表面形状における光線追跡を行う変形後追跡工程と、を有することを特徴とする光学機器の設計支援方法。

IPC (1件)：

G06F 17/50

FI (2件)：

G06F17/50 612H ,  G06F17/50 680A

Fターム (3件)：

5B046FA12 ,  5B046FA18 ,  5B046JA07