特許

J-GLOBAL ID：201303024152319414

微小粒子測定装置

発明者： 新田 尚
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 薫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-199892
公開番号（公開出願番号）：特開2013-061244
出願日： 2011年09月13日
公開日（公表日）： 2013年04月04日
要約：

【課題】測定誤差を簡便な処理によって補正可能な微小粒子測定装置の提供。【解決手段】微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、該検出部により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、を有する微小粒子測定装置を提供する。この微小粒子測定装置では、各受光素子で取得された強度値をそれぞれの受光素子の検出波長域幅で補正することによって、装置の光学系の非線形性に起因した測定誤差を補償することができる。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

微小粒子からの光を検出波長域が異なる複数の受光素子により検出する検出部と、 該検出部により取得された前記光の強度値を、各受光素子の検出波長域幅で補正して、第一の補正強度値を算出する処理部と、を有する微小粒子測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/64

FI (5件)：

G01N15/14 J ,  G01N15/14 C ,  G01N15/14 P ,  G01N21/64 Z ,  G01N15/14 G

Fターム (23件)：

2G043AA03 ,  2G043AA04 ,  2G043BA16 ,  2G043CA06 ,  2G043DA05 ,  2G043DA06 ,  2G043EA01 ,  2G043EA14 ,  2G043FA06 ,  2G043FA07 ,  2G043GA02 ,  2G043GA08 ,  2G043GB01 ,  2G043GB28 ,  2G043HA01 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06