特許
J-GLOBAL ID：201303024358990600
温度補償回路、回路装置、電子機器及び調整方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
竹腰 昇
, 井上 一
, 黒田 泰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-106459
公開番号（公開出願番号）：特開2013-236199
出願日： 2012年05月08日
公開日（公表日）： 2013年11月21日
要約：
【課題】簡素な構成で高次の温度補償を行うことが可能な温度補償回路、回路装置、電子機器及び調整方法等を提供すること。【解決手段】温度補償回路は、1次成分発生回路30と、3次成分発生回路40と、高次成分発生回路50と、1次成分ゲイン調整回路60と、3次成分ゲイン調整回路70と、高次成分ゲイン調整回路80と、加算回路100と、を含む。加算回路100は、ゲイン調整後の1次出力信号VS1と、ゲイン調整後の3次出力信号VS3と、ゲイン調整後の高次出力信号VShと、を加算し、加算により得られた電圧を温度補償用電圧VCOMPとして出力する。高次成分発生回路50は、3次関数よりも高次のi次関数と、i次関数よりも高次のj次関数と、が少なくとも合成された合成関数を近似する信号を、高次成分信号IShとして出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
温度センサーからの検出信号に基づいて、温度に対する1次関数を近似する信号である1次成分信号を出力する1次成分発生回路と、
前記検出信号に基づいて、前記温度に対する3次関数を近似する信号である3次成分信号を出力する3次成分発生回路と、
前記検出信号に基づいて、前記温度に対する高次関数を近似する信号である高次成分信号を出力する高次成分発生回路と、
前記1次成分信号のゲイン調整を行い、ゲイン調整後の前記1次成分信号を1次出力信号として出力する1次成分ゲイン調整回路と、
前記3次成分信号のゲイン調整を行い、ゲイン調整後の前記3次成分信号を3次出力信号として出力する3次成分ゲイン調整回路と、
前記高次成分信号のゲイン調整を行い、ゲイン調整後の前記高次成分信号を高次出力信号として出力する高次成分ゲイン調整回路と、
前記1次出力信号と前記3次出力信号と前記高次出力信号とを加算し、加算により得られた電圧を温度補償用電圧として出力する加算回路と、
を含み、
前記高次成分発生回路は、
3次関数よりも高次のi次関数(iは4以上の自然数)と、前記i次関数よりも高次のj次関数(jはj>iの自然数)と、が少なくとも合成された合成関数を近似する信号を、前記高次成分信号として出力することを特徴とする温度補償回路。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (16件)：
5J079BA02
, 5J079CB02
, 5J079CB07
, 5J079DB05
, 5J079FA02
, 5J079FA04
, 5J079FA14
, 5J079FA21
, 5J079FA24
, 5J079FB02
, 5J079FB05
, 5J079FB09
, 5J079FB11
, 5J079FB39
, 5J079JA01
, 5J079JA03
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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