配向膜のチルト角を測定する方法、光配向膜、光学異方体

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：河野通洋 , 根岸真
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-085736
公開番号（公開出願番号）：特開2013-164613
出願日： 2013年04月16日
公開日（公表日）： 2013年08月22日
要約：

【課題】正確で、かつ、簡便な手段により薄膜である配向膜のチルト角を測定する方法、量産性に適した優れた感度、及び、高温下に晒されても液晶配向能が低下しない、すなわち、耐熱性の優れた光配向膜を得ること。【課題を解決するための手段】配向膜材料の基材に対するチルト角を偏光赤外多角入射分解分光法により測定する方法を提供する。また、少なくとも1種類以上の配向材料、1種類以上の溶剤を含む配向膜用組成物を基材に塗布乾燥した後、配向処理を行うことで配向膜であって、配向処理により配向膜の基材に対するチルト角が減じることを特徴とする配向膜を提供する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：