特許
J-GLOBAL ID:201303024641812549

方向性電磁鋼板及び方向性電磁鋼板の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 亀谷 美明 ,  金本 哲男 ,  萩原 康司 ,  松本 一騎
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-541263
特許番号:特許第5229432号
出願日: 2012年05月28日
要約:
【要約】側歪みの進展を確実に抑制でき、側歪みが発生した部分についても製品化可能である方向性電磁鋼板を提供する。本発明の方向性電磁鋼板は、鋼板11の幅方向の一端側のグラス皮膜12に、前記鋼板の圧延方向と平行な方向に沿って連続的な直線状に又は不連続な破線状に形成され、前記グラス皮膜の他の部位と組成が異なる線状変質部14を有する。前記鋼板11の地鉄部のうち前記線状変質部14に対応する前記鋼板の幅方向位置において、結晶粒の磁化容易軸の方向と前記圧延方向との角度ずれ量の平均値が0°以上、20°以下である。
請求項(抜粋):
【請求項1】 鋼板の表面にグラス皮膜が形成された方向性電磁鋼板であって、 前記鋼板の幅方向の一端側の前記グラス皮膜に、前記鋼板の圧延方向と平行な方向に沿って連続的な直線状に又は不連続な破線状に形成され、前記グラス皮膜の他の部位と組成が異なる線状変質部を有し、 前記鋼板の地鉄部のうち前記線状変質部の下部に位置する結晶粒に関して、各結晶粒の磁化容易軸の方向と前記圧延方向との角度ずれ量θaを定義したときに、前記角度ずれ量θaを前記線状変質部の下部に位置する結晶粒で平均化して得られた平均値Rが0°以上、20°以下であり、 前記グラス皮膜の前記線状変質部におけるMgの特性X線強度Iaは、前記グラス皮膜の他の部位のMgの特性X線強度の平均値Ipよりも小さく、 前記線状変質部におけるMgの特性X線強度Ia、及び前記グラス皮膜の他の部位のMgの特性X線強度の平均値Ipは、EPMA解析により求められ、前記線状変質部は、前記グラス皮膜のうち、前記Ipに対する前記Iaの比率であるMg減少比Irが0.3以上、0.95以下であるMg減少部として特定される、方向性電磁鋼板。
IPC (5件):
C22C 38/00 ( 200 6.01) ,  C21D 9/46 ( 200 6.01) ,  C21D 8/12 ( 200 6.01) ,  H01F 1/16 ( 200 6.01) ,  C22C 38/06 ( 200 6.01)
FI (6件):
C22C 38/00 303 U ,  C21D 9/46 501 A ,  C21D 8/12 B ,  C21D 8/12 D ,  H01F 1/16 B ,  C22C 38/06

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