特許

J-GLOBAL ID：201303026253095960

多軸疲労寿命評価方法

発明者： 中村 寛 ,  高梨 正祐 ,  坂根 政男 ,  伊藤 隆基
出願人/特許権者： 株式会社IHI ,  学校法人立命館 ,  国立大学法人福井大学
代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-183637
公開番号（公開出願番号）：特開2013-044666
出願日： 2011年08月25日
公開日（公表日）： 2013年03月04日
要約：

【課題】多軸負荷による疲労損傷を高精度に予測可能な多軸疲労寿命評価方法を提供する。【解決手段】評価対象の構造物の各時刻での応力またはひずみ状態を基に、各時刻での主応力または主ひずみに対して直交する面である主応力・主ひずみ面をそれぞれ求め、求めた各時刻での主応力・主ひずみ面のそれぞれに対して、当該主応力・主ひずみ面に作用する各時刻での主応力または主ひずみの垂直成分の値をそれぞれ算出すると共に、当該算出した値と、予め求めておいた単軸負荷時のSN線図とに基づき、各主応力・主ひずみ面での累積損傷評価を行い、当該累積損傷評価で最も損傷が大きいと評価された主応力・主ひずみ面を評価対象の主応力・主ひずみ面として、疲労寿命の評価を行う。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

評価対象の構造物の各時刻での応力またはひずみ状態を基に、各時刻での主応力または主ひずみに対して直交する面である主応力・主ひずみ面をそれぞれ求め、 求めた各時刻での主応力・主ひずみ面のそれぞれに対して、当該主応力・主ひずみ面に作用する各時刻での主応力または主ひずみの垂直成分の値をそれぞれ算出すると共に、 当該算出した値と、予め求めておいた単軸負荷時のSN線図とに基づき、各主応力・主ひずみ面での累積損傷評価を行い、 当該累積損傷評価で最も損傷が大きいと評価された主応力・主ひずみ面を評価対象の主応力・主ひずみ面として、疲労寿命の評価を行う ことを特徴とする多軸疲労寿命評価方法。

IPC (1件)：

G01N 3/32

FI (1件)：

G01N3/32 E

Fターム (3件)：

2G061EA03 ,  2G061EA04 ,  2G061EC02