特許

J-GLOBAL ID：201303026623081971

撮像装置及び測光方法

発明者： 谷口 英則
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-042385
公開番号（公開出願番号）：特開2013-179484
出願日： 2012年02月28日
公開日（公表日）： 2013年09月09日
要約：

【課題】 低輝度下において測光に要する時間を短縮すること。【解決手段】 被写体からの入射光に応じて電荷を発生する通常の受光素子と遮光された受光素子とを有する光電変換領域と、光電変換領域を予め設定した電位にリセットするリセット手段とを有し、光電変換領域で発生した電荷を測光値に変換して出力する測光回路(107)と、リセット手段により光電変換領域をリセットし、リセットしてから予め設定された時間経過後に、測光回路の各受光素子から測光値を取得する制御手段(120)と、取得した通常の受光素子の測光値と遮光された受光素子の測光値との差分と、光電変換領域のリセットの後の測光回路の変換特性とに基づいて、被写体の輝度を予測する輝度演算手段(120)とを有し、測光回路の変換特性は、被写体の輝度と、リセットされてから予め設定された時間経過後の差分との関係を表す特性であることを特徴とする。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

被写体からの入射光に応じて電荷を発生する通常の受光素子と遮光された受光素子とを有する光電変換領域と、前記光電変換領域を予め設定した電位にリセットするリセット手段とを有し、前記光電変換領域で発生した電荷を測光値に変換して出力する測光手段と、 前記リセット手段により前記光電変換領域をリセットし、リセットしてから予め設定された時間経過後に、前記測光手段の各受光素子から測光値を取得する制御手段と、 取得した前記通常の受光素子の測光値と前記遮光された受光素子の測光値との差分と、前記光電変換領域のリセットの後の前記測光手段の変換特性とに基づいて、前記被写体の輝度を予測する輝度演算手段とを有し、 前記測光手段の変換特性は、被写体の輝度と、リセットされてから前記予め設定された時間経過後の前記差分との関係を表す特性であることを特徴とする撮像装置。

IPC (2件)：

H04N 5/225 ,  H04N 5/369

FI (3件)：

H04N5/225 F ,  H04N5/225 D ,  H04N5/335 690

Fターム (18件)：

5C024AX01 ,  5C024BX01 ,  5C024CX51 ,  5C024EX12 ,  5C024GZ36 ,  5C024HX40 ,  5C024HX41 ,  5C024JX41 ,  5C122DA04 ,  5C122EA68 ,  5C122FB04 ,  5C122FC07 ,  5C122FF01 ,  5C122FF12 ,  5C122FF21 ,  5C122FF26 ,  5C122HB01 ,  5C122HB06

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 測光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-324427   出願人：株式会社ニコン
• 測光装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-125378   出願人：株式会社ニコン