特許
J-GLOBAL ID:201303027450696424

イメージセンサによるデータ取得方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦 ,  大貫 進介
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-221489
公開番号(公開出願番号):特開2013-085241
出願日: 2012年10月03日
公開日(公表日): 2013年05月09日
要約:
【課題】CMOSチップを用いて直接荷電粒子を計数する場合、リセットノイズと一定のパターンノイズを除去するCDS処理を行う場合に、撮像速度を向上させる。【解決手段】多数の読み出し後にのみ画素をリセットする。多数の画像後にリセットすることにより、又は、前記画像の1画素が所定の値(たとえばフルウエルキャパシティの0.8倍)よりも大きな値を示すとき、1つの信号の取得後にリセットを用いる従来技術に係る方法と比較して、撮像速度は略2倍となりうる。【選択図】図2
請求項(抜粋):
多数の画素を有し、リセットを用いて前記画素を所定の状態にするイメージセンサによるデータ取得方法であって、 画素の電圧をリセットする工程、 1回目に前記画素の第1読み取り値として前記画素の電圧を読み取る工程、 2回目に前記画素の第2読み取り値として各画素の電圧を読み取る工程、 前記画素の第1読み取り値と第2読み取り値との差異を決定する工程、 3回目に前記画素の第3読み取り値として前記画素の電圧を読み取る工程であって、前記2回目に前記画素の電圧を読み取る工程と前記3回目に前記画素の電圧を読み取る後続の工程との間ではリセットが起こらない、工程、及び、 前記第3読み取り値から前記第2読み取り値を減ずることによって第2信号を決定する工程、 を有することを特徴とする方法。
IPC (5件):
H04N 5/363 ,  H04N 5/32 ,  H04N 5/374 ,  H01L 27/144 ,  H01L 27/146
FI (5件):
H04N5/335 630 ,  H04N5/32 ,  H04N5/335 740 ,  H01L27/14 K ,  H01L27/14 A
Fターム (10件):
4M118BA10 ,  4M118BA14 ,  4M118GA10 ,  5C024AX11 ,  5C024AX16 ,  5C024CX05 ,  5C024CX06 ,  5C024CY01 ,  5C024GY31 ,  5C024HX29
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-233652   出願人:キヤノン株式会社
審査官引用 (1件)
  • 撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2000-233652   出願人:キヤノン株式会社

前のページに戻る