特許

J-GLOBAL ID：201303031933470726

検査用マーク及びこれを有する印刷回路基板

発明者： リ・サン ユン ,  ユン・ギョンロ ,  チョ・ソン ジン
出願人/特許権者： サムソン エレクトロ-メカニックス カンパニーリミテッド.
代理人 (2件)： 加藤 公延 ,  大島 孝文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-075738
公開番号（公開出願番号）：特開2013-123026
出願日： 2012年03月29日
公開日（公表日）： 2013年06月20日
要約：

【課題】ソルダレジスト開口部の偏心量及び偏心方向を正確な数値で検出することができる検査用マーク及びこれを有する印刷回路基板を提供する。【解決手段】検査用マークは、第1方向に向き合って離隔形成された一対の第1端子及び前記第1方向に対して垂直な第2方向に向き合って離隔形成された一対の第2端子を含む電圧印加端子と、前記一対の第1端子及び前記一対の第2端子を連結する第1-1パターン及び第1-2パターンを含む第1パターンと、前記第1-1パターン及び第1-2パターン両側の一面または他面に一端が連結されて延長形成された複数個の第2パターンと、前記第2パターンの他端に連結形成された複数個の電圧測定端子と、前記電圧印加端子及び電圧測定端子を露出させる第1開口部と前記第1パターンを露出させる第2開口部とを有するソルダレジスト層と、電圧印加端子、電圧測定端子及び第1パターンに形成された表面処理層と、を含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1方向に向き合って離隔形成された一対の第1端子及び前記第1方向に対して垂直な第2方向に向き合って離隔形成された一対の第2端子を含む電圧印加端子と、 前記一対の第1端子及び前記一対の第2端子を連結する第1-1パターン及び第1-2パターンを含む第1パターンと、 前記第1-1パターン及び第1-2パターン両側の一面または他面に一端が連結されて延長形成された複数個の第2パターンと、 前記第2パターンの他端に連結形成された複数個の電圧測定端子と、 前記電圧印加端子及び電圧測定端子を露出させる第1開口部と前記第1パターンを露出させる第2開口部とを有するソルダレジスト層と、 前記第1開口部及び第2開口部を介して露出された電圧印加端子、電圧測定端子及び第1パターンに形成された表面処理層と、を含み、 前記第1パターンの第1-1パターン及び第1-2パターンは互いに交差し、前記第2開口部は、前記第1パターンの交差された部分を露出させる検査用マーク。

IPC (2件)：

H05K 1/11 ,  H05K 3/00

FI (3件)：

H05K1/11 Z ,  H05K3/00 P ,  H05K3/00 T

Fターム (6件)：

5E317AA02 ,  5E317BB12 ,  5E317BB13 ,  5E317BB15 ,  5E317CD29 ,  5E317GG16

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 配線基板の製造方法及び配線基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2009-113034   出願人：富士通セミコンダクター株式会社
• プリント配線板およびそのパターンずれ検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-056175   出願人：エルナー株式会社
• 特開平3-014285
  
• プリント配線基板の検査方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-202621   出願人：株式会社トッパンエヌイーシー・サーキットソリューションズ富山