特許

J-GLOBAL ID：201303032904810735

溶接部の異材判定方法

発明者： 福盛 健治
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 特許業務法人 高橋松本&パートナーズ
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-025468
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160729
出願日： 2012年02月08日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
要約：

【課題】多層盛溶接からなる溶接部に異材溶接層が存在するか否かを非破壊的、且つ簡便に判定することができる溶接部の異材判定方法を提供することができる。【解決手段】テストピースXの共材溶接部4に対してフェライトの含有量を計測する。また、テストピースY、Zの異材溶接部8に対して異材溶接層6の厚さと、フェライトの含有量との関係を含むデータを取得し、異材溶接層6の厚さとフェライトの含有量との関係を示す第1マップ12を作成する。そして、点検対象溶接部に、異材溶接層6が含まれているか否かを判定する際のフェライトの含有量の閾値を設定する。その後、点検対象溶接部のフェライトの含有量を計測して、当該フェライトの含有量と閾値とを比較して、点検対象溶接部に異材溶接層6が存在するか否かを判定する。【選択図】図1C

請求項（抜粋）：

同一種類の金属母材を突き合わせて多層盛溶接された溶接部に、前記金属母材と異なる他の金属材からなる異材溶接層が含まれるか否かを判定する溶接部の異材判定方法であって、 前記金属母材からなる共材溶接層のみから構成された共材溶接部の電磁的物性値と前記共材溶接層の厚さとの関係を含むデータを取得する共材物性値取得ステップと、 前記共材物性値取得ステップにて取得された前記電磁的物性値以上又は前記電磁的物性値以下の値を閾値とする閾値設定ステップと、 前記閾値設定ステップにより設定された閾値を閾値データベースに格納する閾値格納ステップと、 複数の溶接層からなり、前記他の金属材が存在するか否かを点検する点検対象溶接部の前記電磁的物性値を計測する電磁的物性値計測ステップと、 前記電磁的物性値計測ステップにより計測された前記電磁的物性値が、前記閾値データベースに格納されている前記閾値よりも大きい又は小さい場合に、前記異材溶接層が前記点検対象溶接部内に存在していると判定する判定ステップと、を備えることを特徴とする溶接部の異材判定方法。

IPC (4件)：

G01N 27/72 ,  B23K 31/00 ,  G01N 27/04 ,  G01N 3/00

FI (5件)：

G01N27/72 ,  B23K31/00 K ,  G01N27/04 Z ,  G01N3/00 Q ,  G01N3/00 R

Fターム (28件)：

2G053AA09 ,  2G053AA14 ,  2G053AB01 ,  2G053AB21 ,  2G053BA30 ,  2G053BB11 ,  2G053CB24 ,  2G060AA10 ,  2G060AE40 ,  2G060AF07 ,  2G060AG11 ,  2G060EA01 ,  2G060EA07 ,  2G060EB06 ,  2G060EB07 ,  2G060HC07 ,  2G060HC13 ,  2G060KA15 ,  2G061AA01 ,  2G061AB03 ,  2G061BA04 ,  2G061CA01 ,  2G061CB04 ,  2G061EC02 ,  4E001CA03 ,  4E001DG04 ,  4E001QA01 ,  4E001QA10