特許
J-GLOBAL ID：201303033757134067

X線検査装置

発明者：
三谷 聡

三谷 聡 について


出願人/特許権者：
アンリツ産機システム株式会社

アンリツ産機システム株式会社 について


代理人 (1件)： 有我 軍一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-124726
公開番号（公開出願番号）：特開2013-251121
出願日： 2012年05月31日
公開日（公表日）： 2013年12月12日
要約：
【課題】高精度にフィラメントの断線を検出することができるX線検査装置を提供すること。【解決手段】X線検査装置1は、複数のフィラメントである第1フィラメント71、第2フィラメント72を陰極に有するX線管12と、X線管12の陰極から陽極に流れる電流をX線管電流として検出するX線管電流検出器76と、X線管12の陰極から陽極に電圧が印加されたときのX線管電流検出器76が検出したX線管電流に基づいて第1フィラメント71または第2フィラメント72の何れかが断線したと判断する制御部46と、を備える。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
複数のフィラメント(71、72)を陰極に有するX線管(12)と、 前記X線管の陰極から陽極に流れる電流をX線管電流として検出するX線管電流検出手段(76)と、 前記X線管の陰極から陽極に電圧が印加されたときの前記X線管電流検出手段が検出したX線管電流に基づいて前記複数のフィラメントの何れかが断線したと判断する断線判断手段(46)と、を備えたことを特徴とするX線検査装置。
IPC (3件)：
H05G 1/26 ,  H05G 1/34 ,  G01N 23/04
FI (3件)：
H05G1/26 T ,  H05G1/34 E ,  G01N23/04
Fターム (18件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA08 ,  2G001GA01 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001JA02 ,  2G001KA01 ,  2G001LA01 ,  2G001PA11 ,  4C092AA01 ,  4C092AB11 ,  4C092AC01 ,  4C092CC15 ,  4C092CE06 ,  4C092DD16 ,  4C092DD26
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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