特許
J-GLOBAL ID：201303036064260688

音響波取得装置

発明者：
中嶌 隆夫

中嶌 隆夫 について

, 
浅尾 恭史

浅尾 恭史 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 世良 和信 ,  川口 嘉之 ,  和久田 純一 ,  坂井 浩一郎 ,  中村 剛 ,  丹羽 武司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-096716
公開番号（公開出願番号）：特開2013-150764
出願日： 2012年04月20日
公開日（公表日）： 2013年08月08日
要約：
【課題】ファブリーペロー型探触子を用いた音響波取得装置において、撮像中に分解能や撮像領域を変えることを可能にする技術を提供する。【解決手段】測定光を照射する測定光源と、測定光が入射する側の第1のミラーおよび被検体からの弾性波が入射する側の第2のミラーを含むファブリーペロー型干渉計を有する探触子と、測定光のビーム径を変化させる光学系と、光学系によるビーム径の変化を制御する制御部と、ファブリーペロー型干渉計で反射した測定光の光量を測定する光センサと、弾性波の入射による、光センサが測定した光量の変化に基づいて、弾性波の強度を取得する処理部を有する音響波取得装置を用いる。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定光を照射する測定光源と、 前記測定光が入射する側の第1のミラーおよび被検体からの弾性波が入射する側の第2のミラーを含むファブリーペロー型干渉計を有する探触子と、 前記測定光のビーム径を変化させる光学系と、 前記光学系によるビーム径の変化を制御する制御部と、 前記ファブリーペロー型干渉計で反射した測定光の光量を測定する光センサと、 前記弾性波の入射による、前記光センサが測定した光量の変化に基づいて、前記弾性波の強度を取得する処理部と、 を有することを特徴とする音響波取得装置。
IPC (2件)：
A61B 8/00 ,  G01N 29/00
FI (2件)：
A61B8/00 ,  G01N29/00 501
Fターム (9件)：
2G047AA12 ,  2G047AC13 ,  2G047BA05 ,  2G047CA04 ,  2G047EA01 ,  2G047EA12 ,  4C601DE16 ,  4C601EE01 ,  4C601EE11
引用特許：
出願人引用 (2件)
  • 特許第7095505号
  • 超音波診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-006058   出願人：富士写真フイルム株式会社
審査官引用 (2件)
  • 特許第7095505号
  • 超音波診断装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-006058   出願人：富士写真フイルム株式会社

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