特許
J-GLOBAL ID:201303036587525995

眼底撮影装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-080997
公開番号(公開出願番号):特開2013-208316
出願日: 2012年03月30日
公開日(公表日): 2013年10月10日
要約:
【課題】 容易に、ばらつきの少ない撮影を行う。【解決手段】 被検眼眼底からの測定光と参照光との干渉状態の検出により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える測定部と、測定部と被検眼との相対位置を検出する検出手段と、測定光と参照光の光路長差を調整するために干渉光学系に配置された光学部材を眼底断層像が取得されるように駆動させる光路長調整、干渉光学系に配置されたフォーカス用光学部材を被検眼眼底に対する合焦位置に駆動させるフォーカス調整、の少なくともいずれかを検出手段による検出結果に基づいて開始し、被検眼眼底に対する干渉光学系の調整を実行する制御手段と、を備える。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
被検眼眼底からの測定光と参照光との干渉状態の検出により被検眼眼底の断層画像を取得するための干渉光学系を備える測定部と、 前記測定部と被検眼との相対位置を検出する検出手段と、 測定光と参照光の光路長差を調整するために前記干渉光学系に配置された光学部材を眼底断層像が取得されるように駆動させる光路長調整、前記干渉光学系に配置されたフォーカス用光学部材を被検眼眼底に対する合焦位置に駆動させるフォーカス調整、の少なくともいずれかを前記検出手段による検出結果に基づいて開始し、被検眼眼底に対する前記干渉光学系の調整を実行する制御手段と、 を備えることを特徴とする眼底撮影装置。
IPC (1件):
A61B 3/10
FI (2件):
A61B3/10 R ,  A61B3/10 W
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 光画像計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-022622   出願人:株式会社トプコン
  • 眼科装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2011-079361   出願人:キヤノン株式会社
審査官引用 (2件)
  • 光画像計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2009-022622   出願人:株式会社トプコン
  • 眼科装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2011-079361   出願人:キヤノン株式会社

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