特許
J-GLOBAL ID：201303037830731929
軸受の残存寿命予測装置及び残存寿命予測方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
小栗 昌平
, 本多 弘徳
, 市川 利光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-021046
公開番号（公開出願番号）：特開2013-160561
出願日： 2012年02月02日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
要約：
【課題】機械装置に組み込まれる軸受を非破壊で検査し、軸受の残存寿命を精度よく予測することができる軸受の残存寿命予測装置及び残存寿命予測方法を提供する。【解決手段】軸受の残存寿命予測装置10において、励磁電流の周波数を可変出力する渦電流装置11を用いて、プローブ15内の試験コイルに印加される励磁電流の周波数を高周波数域から低周波数域まで複数段階で変化させ、軸受の使用前後に対する試験コイルの出力電圧を励磁電流の周波数ごとにそれぞれ検出し、軸受の使用前後における励磁電流の周波数ごとの出力電圧の差を算出して、軸受の残存寿命を予測する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
試験コイルを有して、所定の周波数の励磁電流を前記試験コイルに印加して、機械装置に組み込まれる軸受の表面部に渦電流を誘導する渦電流装置と、前記渦電流に基づき変化する前記試験コイルの出力電圧を検出する検出部と、前記出力電圧に基づき前記軸受の残存寿命を予測する診断部と、を備えて前記軸受の残存寿命を予測する軸受の残存寿命予測装置であって、
前記渦電流装置は、前記励磁電流の前記周波数を可変出力して、前記試験コイルに印加される前記励磁電流の前記周波数を高周波数域から低周波数域まで複数段階で変化させ、
前記検出部は、前記軸受の使用前後に対する前記試験コイルの前記出力電圧を前記励磁電流の前記周波数ごとにそれぞれ検出し、
前記診断部は、前記軸受の使用前後における前記励磁電流の前記周波数ごとの前記出力電圧の差を算出して、前記軸受の残存寿命を予測することを特徴とする軸受の残存寿命予測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (16件)：
2G024AC01
, 2G024BA12
, 2G024CA18
, 2G024DA21
, 2G024EA01
, 2G024FA02
, 2G053AA14
, 2G053AB21
, 2G053BA25
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053BC14
, 2G053CA03
, 2G053CA18
, 2G053CB21
, 2G053DA01
