特許
J-GLOBAL ID：201303039283443525
撮像装置
出願人/特許権者：
キヤノン株式会社
キヤノン株式会社 について
代理人 (8件)： 岡部 讓 , 臼井 伸一 , 越智 隆夫 , 高橋 誠一郎 , 吉澤 弘司 , 齋藤 正巳 , 木村 克彦 , 田中 尚文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-273761
公開番号（公開出願番号）：特開2013-198721
出願日： 2012年12月14日
公開日（公表日）： 2013年10月03日
要約：
【課題】 被検眼の収差の測定レンジを抑えた撮像装置を提供する。【解決手段】 撮像装置において、被検査物に対して第一の測定光を合焦する第一の合焦手段を介して該第一の測定光を照射した該被検査物からの第一の戻り光に基づいて、該被検査物の第一の画像を取得する第一の画像取得手段と、収差補正手段を用いて、前記被検査物に対して第二の測定光を合焦する第二の合焦手段を介して該第二の測定光を照射した該被検査物からの第二の戻り光に基づいて、該被検査物における前記第一の画像の一部に対応する領域の第二の画像を取得する第二の画像取得手段と、前記第一の合焦手段の合焦状態に基づいて前記第二の合焦手段の合焦状態を調整する合焦調整手段と、を配することとする。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被検査物に対して第一の測定光を合焦する第一の合焦手段を介して該第一の測定光を照射した該被検査物からの第一の戻り光に基づいて、該被検査物の第一の画像を取得する第一の画像取得手段と、
収差補正手段を用いて、前記被検査物に対して第二の測定光を合焦する第二の合焦手段を介して該第二の測定光を照射した該被検査物からの第二の戻り光に基づいて、該被検査物における前記第一の画像の一部に対応する領域の第二の画像を取得する第二の画像取得手段と、
前記第一の合焦手段の合焦状態に基づいて前記第二の合焦手段の合焦状態を調整する合焦調整手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
引用特許：
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